超声相控阵缺陷分析及评判技术探讨

摘要：

　　超声相控阵技术的缺陷分析及评判是超声相控阵技术应用的关键点，介绍了超声相控阵图像显示的主要类型，分析了相控阵图像显示缺陷的基本特征，介绍了相控阵检测技术能够得到缺陷特征信息，介绍了目前国际上超声相控阵技术缺陷评判标准的现状，探讨了将超声相控阵技术得到的所有缺陷特征信息用于评判的可行性。

关键词： 超声相控阵 缺陷分析 缺陷评判

作者: 钟德煌

作者单位: 通用电气检测控制技术(上海)有限公司,上海市,201203

会议类型: 国内会议

会议名称: 2019中国超声检测大会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 156-161

在线出版日期: 2019-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）