利用GEANT4研究轻带电粒子诱发反应出射中子双微分产额
轻带电粒子诱发反应产生次级中子的研究对于加速器屏蔽设计和优化具有重要意义.利用Geant4 程序结合INCL、BIC、BERT 物理模型分别计算了33 MeV 的d 核、65 MeV 的3He 核和4He 核轰击厚的碳、铜和铅靶在 0°,15°,45°,75° 和135° 等方向出射中子的双微分产额,并与实验数据进行了比较.研究表明,对于33 MeV 的d 核诱发的核反应,INCL 模型的计算结果基本上再现了碳靶和铜靶的实验数据,但高估了铅靶直接过程产生的中子.BIC 模型和BERT 模型的计算结果没有重现弹核削裂过程对应的宽峰.对于65 MeV 的3He 核诱发的核反应,三个模型的计算结果均未能重现前向角弹核削裂过程产生的中子,但在15°,45°,75° 和135° 上三个模型的计算结果与实验数据符合较好.对于65 MeV 的4He 核诱发的核反应,INCL 模型的计算结果与碳靶和铜靶的实验数据符合较好,但低估了铅靶的中子产额.BIC 模型和BERT 模型的计算结果低估了碳靶的实验数据,且在大角度上略微高估了铅靶的实验数据.
轻带电粒子 次级中子产额 Geant4
张鑫 陈志强 刘丙岩 韩瑞 田国玉 石福栋 孙慧
中国科学院近代物理研究所,兰州 730000;中国科学院大学核科学与技术学院,北京 100049 中国科学院近代物理研究所,兰州 730000
国内会议
武汉
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1-5
2019-10-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）