Development of wide-area tip-scanning highspeed atomic force microscopy

作者: Hiroki Watanabe

作者单位: IMS,ExCELLS,National Institutes of Natural Sciences,Japan

会议类型: 国内会议

会议名称: 第9届纳米操纵、制造与测量国际会议

会议地点: 江苏镇江

会议语种:英文

页码: 94-94

在线出版日期: 2019-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）