GaAs高速电路在片瞬态测试技术研究

摘要：

该文介绍了GaAs高速集成电路在片瞬态参数测试的技术原理、系统组成。利用该系统对部分GaAs高速电路进行了测试，结果表明，该系统行之有效。

关键词： 高速集成电路 在片瞬态测试 微波探针

作者: 王国全 马振昌

作者单位: 集成电路国家级重点实验室 大学光电子国家重点实验室(长春)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国化合物半导体、微波器件和光电器件学术会议

会议地点: 宜昌

会议语种:中文

页码: 203～205

在线出版日期: 1998-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）