会议专题

全饱和裂隙性孔隙介质中应力扰动研究

  针对裂隙性孔隙模型的等效介质理论研究一直是地球物理勘探中的重要问题。当裂隙密度较大时,裂隙之间的应力场将会发生扰动,并对最终等效介质参数产生影响。本文在Biot 固结方程基础上,针对全饱和裂隙性孔隙介质,考虑其中流体流动所产生的影响,研究了两类不同的应力扰动模型对等效介质参数的影响,研究结果表明了应力增强效应将会显著提高衰减同时应力屏蔽作用则使得衰减呈现出“多峰”现象。

应力扰动 衰减 局域流

曹呈浩 符力耘

中国科学院地质与地球物理研究所 北京 100029 中国石油大学(华东)青岛 266580

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2018-10-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)