Altair FekoTM特征面技术在RCS快速计算上的应用

摘要：

　　Altair FekoTM的特征面技术的基本方法是利用透射反射系数来等效特定结构，来进行快速计算。该方法可以广泛应用于天线罩、天线阵列等含有周期结构的电大以及电中尺寸的仿真计算。本文通过一个Vivaldi 阵列的简化模型为例，介绍了该技术的使用方法，将该技术应用于阵列天线RCS 快速计算上，并且对计算时间和精度与全波算法进行了对比。结果 表明该方法可以在保证一定精度的情况下，对阵列天线的RCS 进行快速计算。

关键词： 特征面 天线阵列 RCS 快速计算

作者: 姜晓宇

作者单位: 中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所 无锡 214063

会议类型: 国内会议

会议名称: 2021 Altair 技术大会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 370-375

在线出版日期: 2021-08-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）