液胀式温度控制器老化筛选方案试验研究
本文通过对液胀式温度控制器热膨胀工质泄漏失效机理的分析，确定制造过程的焊接缺陷是导致出现泄漏失效的主要原因，此类失效具有早期失效特征，失效率随试验时间呈现明显的下降趋势，所以通过老化筛选试验可以有效检出失效器件.试验研究数据表明，在器件设计和制造条件得到合理控制的条件下，将试验温度设定在器件最高工作温度，在48h 老化筛选时间内可以剔除95％以上潜在失效器件，该试验时间约为目前行业常规的老化筛选时间1/3～1/2.
温度控制器 液胀式 失效 泄漏 老化 筛选 试验 可靠性
钟福林 黄逊青
广东万和新电气股份有限公司,528305
国内会议
宁波
中文
1142-1145
2018-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）