1MeV电子辐照双极晶体管辐射损伤缺陷行为研究
双极型晶体管(BJT)作为航天器电子系统的重要组成部分，在轨服役期间会受到各种空间带电粒子的辐射损伤。这些入射粒子会在器件内部产生各种辐射损伤，导致电性能退化。本文选用3DG110型NPN双极晶体管作为研究对象，基于1MeV电子辐照及退火试验，采用原位电性能测试及深能级瞬态谱分析，深入研究晶体管辐射损伤性能退化规律与缺陷演化行为特征。研究表明，双极晶体管内部的氢不仅能够增强晶体管的辐照敏感程度，同样加快晶体管在退火条件下的回复速度。
双极晶体管 辐射损伤 氢气处理 深能级缺陷
李兴冀 刘超铭 杨剑群 马国亮 栾晓楠
哈尔滨工业大学,材料科学与工程学院
国内会议
兰州
中文
1-14
2016-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）