双色干涉测量单丝电爆炸产物密度
激光干涉是测量Z 箍缩、开光放电等过程产生等离子体密度的一种常用方法。本文使用Nd：YAG 激光器的二次(532 nm)和三次(355 nm)谐波搭建了一套双色干涉系统，用于百kA FLTD 电流源驱动的单丝电爆炸实验诊断。诊断结果表明，即使负载中能量沉积～10倍于电离负载中全部电子所需的能量，电爆炸后形成的混合物中仍有相当比例的中性原子存在，这说明电流在负载演变过程中分布极不均匀，处于激光探针诊断范围之外的极稀薄等离子体可能是影响负载中电流分布的主要因素。
双色干涉 单丝电爆炸
李阳 盛亮 孟伦 张金海 孙铁平 李沫 赵吉祯 张美 彭博栋 李奎念 张艳红
西北核技术研究所,西安,710024;西安交通大学,西安,7100049 西北核技术研究所,西安,710024 国防科技大学,长沙
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2016-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）