器件辐射效应耦合关系对系统中子辐射效应的影响
对电源模块和运算放大器组成的电子系统开展了中子辐射环境下的耦合规律及实验研究，开展了不同偏置条件下的辐照实验和失效分析，分析了系统中分立器件辐射效应与单独辐照条件下的差异。研究认为：在中子辐射环境下，器件单独输出与在系统中的输出存在较大差异，电路中某一级器件输出受不同级器件的相互影响，上一级器件的失效会导致下级自身未失效的器件输出失效。而加电辐照、不加电辐照和全部短接辐照三种中子辐照方式对电路参数的影响无明显差异。
中子辐射效应 电子系统 位移损伤 运算放大器 电源模块
刘岩 金晓明 王晨辉 杨善潮 齐超 贺朝会
强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,西北核技术研究所,西安710024;西安交通大学核科学与技术学院,西安710049 强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,西北核技术研究所,西安710024 西安交通大学核科学与技术学院,西安710049
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2016-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）