一种反熔丝FPGA瞬时剂量率效应的统计测试

摘要：

　　本文介绍了反熔丝FPGA 的瞬时剂量率效应测试方法，包括辐射敏感参数、偏置条件、测试设备等。在“强光一号”辐射模拟源上完成了批量LC1020BX 型反熔丝FPGA 的瞬时剂量率辐照试验。统计分析结果表明，该型反熔丝FPGA在不同瞬时剂量率辐照条件下，稳态电源电流无明显增加，无闭锁；较高剂量率辐照时，出现逻辑扰动现象，分频功能出现重启。经统计分析，首次获得了LC1020BX 反熔丝FPGA 的瞬时剂量率扰动阈值。

关键词： 反熔丝FPGA 瞬时剂量率效应 闭锁 扰动

作者: 熊涔 许献国 朱小锋 熊静华 秦旭军

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621999 中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032

会议类型: 国内会议

会议名称: 2016年第二届全国辐射物理学术交流会会议

会议地点: 兰州

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2016-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）