锰铁、锰硅合金和金属锰XRF熔片分析的玻璃片质量校正
XRF熔片分析中,存在着样品直接灼烧和熔融质量变化不同产生的误差,常用的稀释比校正无法校正这种误差.本文提出在固定质量(体积)的熔剂中熔入系列被测组分的氧化物制备出质量(体积)相同的玻璃片标准系列,建立X射线荧光强度与玻璃片中被测组份体积浓度的函数曲线,对测量结果使用试样玻璃片质量与校准曲线玻璃片的质量比校准分析结果,即质量校正代替稀释比校正.以纯物质(MnO2、SiO2、(NH4)2HPO4和Fe2O3)为标准,用选定的仪器工作条件,建立了锰系合金分析用Mn、Si、Fe、P质量分数对荧光强度的校准曲线,其线性相关系数分别为0.99993,0.99998,0.99996,0.99981.用标准样品考察了校准曲线的准确度.T检验结果表明,当玻璃片的质量变化较大时,不使用质量校正测量结果偏差较大,正确度差.
X-射线荧光光谱 熔片分析 质量校正锰铁 锰硅合金和金属锰
徐建平
武汉科技大学省部共建耐火材料与冶金国家重点实验室 武汉中国 430081
国内会议
贵州
中文
562-566
2018-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）