基于有限元的大尺寸DIP陶封器件离心试验失效分析

摘要：

　　基于大尺寸DIP陶封器件在高加速离心试验中的高失效率问题及其典型的失效模式，用有限元分析软件workbench对这类器件进行了失效分析，确定了引发失效的原因为使器件中部悬空的装夹方式存在问题，进而针对这一问题提出了相应的改进。

关键词： DIP陶封器件 高加速离心试验 失效分析

作者: 朱朝轩 罗俊 唐毅 唐游

作者单位: 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆400060

会议类型: 国内会议

会议名称: 2018年环境技术研讨会

会议地点: 海拉尔

会议语种:中文

页码: 72-76

在线出版日期: 2018-09-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）