会议专题

基于有限元的大尺寸DIP陶封器件离心试验失效分析

  基于大尺寸DIP陶封器件在高加速离心试验中的高失效率问题及其典型的失效模式,用有限元分析软件workbench对这类器件进行了失效分析,确定了引发失效的原因为使器件中部悬空的装夹方式存在问题,进而针对这一问题提出了相应的改进。

DIP陶封器件 高加速离心试验 失效分析

朱朝轩 罗俊 唐毅 唐游

中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆400060

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2018年环境技术研讨会

海拉尔

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72-76

2018-09-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)