高分辨率的ICP-OES直接测定铝合金中的非基体成分
铝属于光谱富线型元素，对待测元素谱线强度有干扰作用，同时存在谱线的重叠，铝的强发射杂散光使背景增强信背比变小，检出限和精密度变差，本实验建立了铝合金中19种微量杂质的高分辨率的电感耦合等离体发射光谱直接测定的方法，采用高分辨率的ICP-OES测定，消除了光谱干扰，使的同一元素不同谱线之间结果非常一致，偏差≤0.06％，采用非线性、线性等背景校正技术，满足了不同分析元素的背景扣除方式，使得测定结果与样品标准值一致.
铝合金 高分辨率ICP-OES 光谱干扰 背景校正
徐辉 沙德仁
国内会议
郑州
中文
7-9
2016-12-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）