交流阻抗谱法检测热障涂层中热致氧化层的厚度

摘要：

　　采用交流阻抗谱法对1000℃高温氧化的热障涂层材料(TBCs)样品进行分析。结果显示，氧化时间100 h后，致密氧化物层形成，其厚度随氧化进程增加且成分也由氧化铝向混合氧化物转变。通过等效电路模拟对交流阻抗测试结果进行分析，得到了热致氧化层(TGO)电容与厚度倒数的正比例关系，实现了对TGO层厚度的检测。

关键词： 交流阻抗谱 热障涂层 热致氧化层

作者: 邢岩 王子媛 郭思枞 潘伟

作者单位: 清华大学新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室,北京100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二十届全国高技术陶瓷学术年会

会议地点: 呼和浩特

会议语种:中文

页码: 327-329

在线出版日期: 2018-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）