关键词: 高低温试验箱 故障树分析 系统可靠性
作者: 刘伟明
作者单位: 部第五研究所
会议类型: 国内会议
会议名称: 中国电子学会电子产品防护技术”98研讨会
会议地点: 庐山
会议语种:中文
页码: 257~260
在线出版日期: 1998-04-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)