会议专题

ADC动态参数测试的CAT技术研究

高速、高分辨ADC在国民经济中的需求日显迫切,其性能参数可分为静态参数、动态参数、常规参数等几大类,其动态参数的测试尤为重要,它既在研制过程中提供重要的反馈信息,也是生产过程中提供高质量电路的保证。为超前于国内ADC的研制和生产,作者收集了国际、国内ADC产品的详细资料,对12个重要动态参数的测试原理和方法进行了深入的研究,并在该所购买的LTX SynchroⅡ测试系统上编程实现;构成了基于该系统硬件的ADC动态参数测试平台、独立于该系统的ADC动态参数测试原理和方法的框架。基于该作者正在开发积木式智能测试系统,实现更高速度的ADC动态参数测试。

ADC 动态参数 测试 CAT 平台 框架

严顺炳 余晋川 陈光禹 李迅波 廖述剑

产业部24所设计中心(重庆) 科技大学CAT研究室(成都)

国内会议

第十一届全国半导体集成电路、硅材料学术会议

大连

中文

437~440

1999-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)