器件单粒子闩锁敏感单元数目确定及在轨闩锁频次预估
利用粒子加速器开展的辐照试验较难确定器件中对单粒子闩锁敏感的单元数目,传统方法预估器件在轨闩锁频次通常假定整个器件只有一个敏感单元.利用脉冲激光进行扫描辐照,发现器件中存在一定数目的独立单粒子闩锁效应敏感单元.本工作利用脉冲激光扫描辐照型号K6R4016V1D的SRAM器件,记录绘制其闩锁敏感部位分布图,统计获得其中的敏感单元数目.利用获得的较真实的闩锁敏感单元数目,预估器件在太阳同步轨道发生的闩锁频次,并与假设的只有一个和其他数目的敏感单元数目的预估结果进行比较.结果表明:敏感单元数目越多、SEL频次越小,并且这种影响对质子直接电离作用、对高LET阈值器件影响更加显著.
航天器 电子设备 单粒子闩锁 敏感单元数目 频次预估
韩建伟 余永涛 封国强 蔡明辉
中国科学院空间科学与应用研究中心,北京100190
国内会议
西安
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2014-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）