基于遗传算法的粒度检测

摘要：

在全光散射法颗粒测量中,提出了一种采用遗传算法反演颗粒折射率,平均粒径及其粒径分布的方法.仿真实验结果表明,该方法可以较准确地反演出颗粒的平均粒径及其粒径分布,可降低折射率变化所带来的测量误差,扩大了全光散射法颗粒测量的应用范围.实际测试粒径分布的反演误差低于10％,很好地满足了工业实际测试的需要.

关键词： 颗粒检测 全光散射法 粒径分布 遗传算法

作者: 陈佳琪 隋国荣

作者单位: 上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海 200093

会议类型: 国内会议

会议名称: 上海市激光学会2013年学术年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 116-117

在线出版日期: 2013-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）