会议专题

Fe元素杂质对压敏电阻性能的影响

  本文研究了Fe元素的引入对ZnO压敏电阻器性能的影响。随着铁杂质含量的增加,压敏电阻的冲击残压提高,耐脉冲冲击能力急剧下降。XRD图谱表明Fe元素部分进入了尖晶石相,在晶粒交界处形成了Zn7Sb2O12-ZnFe2O4固溶体,并且有部分Fe元素进入了ZnO晶粒内部,使ZnO晶粒的品格常数减小。铁离子替代锌离子并形成半数的锌晶格空位。三价铁离子在瓷体烧结降温阶段与部分施主掺杂形成的导电电子复合使氧化锌晶粒电阻率提高,导致材料大电流区非线性降低,压敏元件承受脉冲冲击时的残压提高,承受脉冲冲击能力降低。

压敏元件 氧化锌晶粒 三价铁离子 冲击残压

卢振亚 蔡源源 杨凤金

华南理工大学,广东,广州,510640 广州智恒电子有限公司,广东,广州,510288

国内会议

中国电子学会敏感技术分会第十三届电压敏学术年会

桂林

中文

60-64

2006-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)