集成电路自动测试设备系统自检的设计

摘要：

介绍了自动测试设备系统自检的功能及工作原理，着重讨论了系统自检硬件模块和软件设计的实现方法。在系统自检的同时加入计量的考虑，使其在设备的出厂测试、入厂验收和定期计量时具有很高的应用价值。

关键词： 自动测试设备 系统自检 计量 集成电路

作者: 李呈旺

作者单位: 北京集诚泰思特测试技术有限公司，北京 100088

会议类型: 国内会议

会议名称: 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 75-77

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）