边界扫描技术在测试性设计中的应用研究

摘要：

针对电路系统的不同信号类型和电子系统不同层次的测试要求,提出了基于边界扫描测试技术的相应测试性设计方法。论文详细阐述了对数字电路、模拟数字混合电路和系统级电路检测的一般方法。该方法具有广泛的适用性,可为电子系统测试性设计提供借鉴。

关键词： 边界扫描测试 测试性设计 数字电路 混合电路 电子系统

作者: 王月芳 陈圣俭

作者单位: 装甲兵工程学院 北京 100072

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二十届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 34-38

在线出版日期: 2010-08-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）