一种可编程MBIST结构的设计与实现

摘要：

设计了一种可编程MBIST结构并进行了实现。通过对多种March算法基本元素的提取,可以用编程的方式控制MBIST的算法应用,对存储器进行完备的测试,而不增加过多的硬件开销。MBIST控制器中的算法控制器和读写控制器均采用状态机方式进行设计,对电路的仿真结果表明测试的有效性。逻辑综合结果表明,所实现的设计最终的电路规模仅比单一算法的电路稍大,但功能更强。

关键词： 内建自测试 存储器测试 可编程MBIST结构 March算法

作者: 张弘 李康

作者单位: 西安电子科技大学微电子学院,西安 710071

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二十届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 229-231

在线出版日期: 2010-08-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）