加速寿命试验的应用

摘要：

本报告讲述了加速寿命试验的基本原理和试验方法,通过使用加速寿命试验的方法评估了LCM产品的MTBF和失效率.为客户对产品使用的信心度提供理论依据.

关键词： 电子产品 加速寿命试验 失效率

作者: 孔令军

作者单位: 深圳天马微电子股份有限公司质量中心实验室 中国 深圳 518118

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008中国平板显示学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 81-84

在线出版日期: 2008-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）