密码芯片测试系统设计

摘要：

本文介绍了密码芯片测试内容和方法,利用8052 CPU和FPGA芯片设计和实现了密码芯片测试系统.该设计可以测试序列密码芯片和分组密码芯片的各种工作方式,以及最高加解密工作速率等功能.

关键词： 密码芯片 测试系统 分组密码

作者: 吕永其

作者单位: 信息产业部电子第30研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第八届通信保密与信息安全现状研讨会

会议地点: 三亚

会议语种:中文

页码: 85-89

在线出版日期: 2002-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）