JTAG边界扫描技术的研究和设计

摘要：

边界扫描技术是符合IEEE规范的一种测试方法,它的设计的实现降低了测试的复杂度,适合进行超大规模集成电路的测试.本文介绍了边界扫描技术的概念、特点及其设计方法,给出了设计的部分框架,讨论了边界扫描技术的应用.

关键词： JTAG 边界扫描技术 TAP控制器 边界扫描单元

作者: 蔡金青 王锐 高明伦

作者单位: 合肥工业大学微电子设计研究所(合肥)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第十五届计算机科学与技术应用学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 471-475

在线出版日期: 2003-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）