关键词： 串行 功能测试 测试程序 器件
作者: 栗学忠 薛宏
会议类型: 国内会议
会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会
会议地点: 北京
会议语种:中文
页码: 104～107
在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）