浅谈低阶消费性IC测试机

摘要：

半导体测试领域非常广泛,而IC测试工作是一种十分重要的项目,从产品的不良品维成本的计算模式中,可得知产品的不良维修成本,IC测试机可作为测试环境的整合,提高IC测试功能的完整性.

关键词： 半导体测试 IC测试机 测试功能

作者单位: 德律科技股份有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国通信专用集成电路发展战略高级研讨会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 202-203

在线出版日期: 2002-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）