会议专题

IIC总线接口测试方法的研究

本文介绍了一种IIC总线接口功能的测试方法,它通过MCU模拟一个IIC接口,对改进IIC总线接口进行各种功能的测试,从而验证该接口的性能是否达到设计要求,并探讨规范的IIC接口的测试方法.IIC-BUS是Philips推出的芯片间串行传输总线它与SPI、MICROWIRE/PLUS接口不同,它以二根连线SDA、SCL实现了完善的半双工同步数据传送.本文阐述了IIC总线的原理,测试的基本方法,并通过实验分析讨论了测试系统构成和测试规范.

主控器 被控器 测试系统 总线接口

李昆明 朱明程

深圳大学信息工程学院电子工程专业

国内会议

第四届中国通信专用集成电路发展战略高级研讨会

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188-192

2002-08-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)