光缆中的氢损效应

摘要：

本文简述了光缆中氢损的机理、氢损的来源和光缆用材料析氢量的检测;根据新的IEC规范,介绍了相关 光纤氢老化试验的程序和各种结构的光缆在不同应用环境下氢损效应评价必要性的导则.

关键词： 光纤 光缆 氢损机理 析氢量

作者: 王临堂

作者单位: 上海电缆研究所(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国通信学会2002年光缆电缆学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 217-220

在线出版日期: 2002-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）