关键词: 缺陷显示膜 磁力探伤 灵敏度 磁痕
作者: 刘彬
作者单位: 北京晋科光技术有限责任公司(北京)
会议类型: 国内会议
会议名称: 第八届全球表面(MT&PT)探伤技术年会
会议地点: 扬州
会议语种:中文
页码: 84-85
在线出版日期: 2002-05-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)