CQFP器件引脚断裂失效分析

摘要：

　　通过扫描电镜与金相组织分析，对筛选试验中出现引脚断裂的CQFP器件进行失效分析。分析结果表明，引脚材料未见明显缺陷，由于应力集中导致边角的引脚发生疲劳断裂。

关键词： 引脚断裂 CQFP 疲劳断裂

作者: 骆文锋

作者单位: 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性研究分析中心,广州510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 2018中国高端SMT学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 371-374

在线出版日期: 2018-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）