X射线线扫描探测系统的应用研究

摘要：

为了满足工业上实时的无损检测要求,本文介绍了一种X射线线扫描探测系统,阐述了线扫描探测的成像原理及技术实现,并设计了像素为1.575的线扫描探测前端,作为X射线线扫描的探测部分,最后就X射线线扫描探测的应用方面进行了研究.

关键词： 工业无损探测 X射线线扫描系统 软件设计

作者: 杨倩倩 胡涛朝 王鹏涛 刘骏

作者单位: 日联科技,广东深圳518132

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国射线数字成像与CT新技术研讨会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 238-242

在线出版日期: 2014-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）