氢氧化镍正极材料的XRD峰强比与其电化学性能之间的关系

摘要：

　　利用“管道式合成”方法合成5种成分相同结构不同的Ni(OH)2样品。采用X射线衍射、场发射扫描电镜表征材料的微观结构及参数。并测试了材料的电化学性能，考察了I101／I001比值与Ni(OH)2材料电化学性能的关系，研究结果表明，随I101／I001比值的增大，样品的电化学性能呈下降的趋势。说明XRD峰强比可以作为快速表征Ni(OH)2材料性能的方法，简化了现有测试手段。

关键词： 氢氧化镍 X射线衍射峰强比 性能表征

作者: 杨慧 蒋文全 傅钟臻 于丽敏 郭荣贵 李涛

作者单位: 北京有色金属研究总院分析测试研究所，北京，100088

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国青年分析测试学术报告会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 123-131

在线出版日期: 2010-10-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）