椭偏法测量光学材料折射率

摘要：

　　本文采用精密测角法测量光学材料的折射率，通常需要将被测量的光学材料加工成一定形状的块状样块，因此无法对尺寸较小的光学材料或光学元件的折射率进行测量。本文介绍了利用光谱椭偏仪测量尺寸较小光学材料折射率的测量原理以及光谱椭偏仪装置基本构成。利用光谱椭偏仪对石英、C8F2、K10玻璃的折射率进行了测量，给出了测量结果，最后，对椭偏仪折射率测量结果进行了讨论。

关键词： 光谱椭偏仪 光学材料 折射率 椭偏法 精密测角法

作者: 王雷 许荣国 黎高平 杨照金

作者单位: 国防科技工业光学一级计量站，陕西 西安 710065

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 356-359

在线出版日期: 2011-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）