SPE水电解膜电极寿命测试的研究
本研究中采用转拓法制备膜电极,在自建的SPE水电解测试平台上对膜电极进行了209小时的寿命测试.测试中电解槽温度保持在60℃,槽电压为1.8V。对寿命测试后的膜电极用X射线光电子能谱研究发现,209 小时后,膜电极阳极已经没有单质Ir的存在,取而代之的是Ir2O3和IrO2, 分别占71.5％和28.5％。采用电导率仪、电感耦合等离子体原子发射光谱仪对测试前后的水质进行分析,发现测试后给水的电导率发生了很大变化,水中出现了硅元素,而钠、钙两种元素的含量也都有所增加。但是,对膜电极用1mol/L H2SO4进行酸煮处理,再测量膜电极的性能,结果发现膜电极的性能基本得到恢复。由此得出结论,膜电极寿命测试过程给水中杂质离子的引入是造成膜电极性能下降和寿命缩短的一个重要原因。本文对测试平台的不足之处提出了一些改进建议。
水电解 膜电极 寿命测试 转拓法
卫国强 高启君 王志涛 王宇新
天津大学化工学院化学工程研究所、化学工程联合国家重点实验室(天津大学),天津市膜科学与海水淡化技术重点实验室,天津300072
国内会议
天津
中文
58-62
2008-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）