几种测量纳米粒子粒径方法的比较研究

摘要：

以纳米碳酸钙粒子作为测量对象,分别采用X射线衍射法(XRD)、透射电子显微镜法(TEM)以及原子力显微镜法(AFM)测量其粒径,结果表明：X射线衍射法测量的纳米粒子粒径可能小于纳米粒子实际平均粒径,透射电子显微镜法和原子力显微镜法测量的纳米粒子粒径可能大于纳米粒子实际平均粒径。分析探讨了三种方法的应用领域、测量范围、优缺点等。

关键词： 纳米粒子 X射线衍射法 透射电子显微镜法 原子力显微镜法 粒径

作者: 顾彩香 李庆柱 李磊 顾卓明

作者单位: 上海海事大学商船学院,上海,200135

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国摩擦学大会

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 398-401

在线出版日期: 2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）