基于单CCD应用线结构光测量熔敷层厚度

摘要：

本文提出了基于单CCD应用线结构光测量熔覆层厚度的理论方法，结合摄像机标定、光平面标定、被测物体点三维坐标计算、数据融合、对应点匹配和熔覆层厚度计算等关键技术，建立了一套基于单CCD借助线结构光测量熔覆层厚度的系统，并对系统的结构进行了详细的叙述，此系统的建立为实现熔覆层厚度的定量测量提供了技术支持.

关键词： 摄像机标定 线结构光 熔覆层厚度 数据融合

作者: 邢飞 刘伟军 夏仁波

作者单位: 中国科学院沈阳自动化研究所,先进制造重点实验室,沈阳,110016;中国科学院研究生院,北京,100049 中国科学院沈阳自动化研究所,先进制造重点实验室,沈阳,110016

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 秦皇岛·北戴河

会议语种:中文

页码: 23-25

在线出版日期: 2007-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）