制备条件对Pr123体系氧含量及正电子寿命谱影响
为了澄清Pr抑制超导电性机理及Pr占Ba位问题,本文研究了不同的制备条件下PrBa2Cu3O7-δ(Pr123)样品的物性,分析了电阻率和氧含量随烧结温度不同所表现出的变化.结果表明,烧结温度为880℃时样品的电阻率最低,高于920℃时,电阻率最大,同时也不利于体系吸氧,这可能是由于PrBa缺陷而引起.正电子寿命谱也因此表现出相应的变化规律.短寿命τ1参数和中间寿命τ2参数均在900℃出现最低峰值.由此可知,单从温度条件考虑,制备Pr123的最佳烧结温度应该为900℃左右.
正电子湮没 氧含量 PrBa缺陷 铜氧化物 超导电性 烧结温度
曹桂新 李平林 刘永生 曹世勋 张金仓
上海大学物理系,上海,200436
国内会议
合肥
中文
461-465
2003-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）