X-射线荧光光谱法测定转炉渣主要成分

摘要：

利用X射线荧光光谱仪测定转炉渣中的TFe,SiO<,2>,CaO,MgO,MnO,P<,2>O<,5>,Al<,2>O<,3>等主要化学成分的含量,采用自制标样绘制工作曲线,利用光谱干扰校正系数和基体效应校正系数消除光谱干扰和基体效应.实验表明:该方法简便快速,有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学分析结果一致.

关键词： X射线荧光光谱 光谱干扰 基体效应 转炉渣 化学成分 钢铁冶炼

作者: 宋兆华 武映梅 谢桂龙

作者单位: 韶关钢铁集团有限公司(广东曲江)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十二届分析测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 190-195

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）