浅谈和应涌流的产生机理及其对差动保护的影响

摘要：

近年来,因和应涌流问题导致的差动保护误动逐见报道,本文初步分析了和应涌流产生的机理与和应涌流对差动保护的影响.理论和实际分析结果表明,系统电阻或公共节点上电压的非周期波动是引起和应涌流的主要原因,且和应涌流中非周期分量衰减较慢引起的TA局部暂态饱和是导致差动保护误动的主要原因,论文最后提出了在运行中应该注意的问题和方法.

关键词： 和应涌流 差动保护 产生机理 电力系统

作者: 袁宇波 李德佳 陆于平 许扬

作者单位: 江苏省电力公司技术中心;东南大学电气工程系 核电秦山联营有限公司(浙江省海盐县) 东南大学电气工程系 江苏省电力公司技术中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国高等学校电力系统及其自动化专业第20届学术年会

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 966-969

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）